真空壓力衰減泄漏測試你感興趣的原理在這里

點(diǎn)擊次數(shù)：1149 更新時間：2022-10-24

產(chǎn)品施加壓縮空氣或氣體是廣泛使用、準(zhǔn)確和方便的泄漏測試方法之一，在整個制造部門都可以使用，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全。

在其簡單的形式中，壓力衰減測試涉及使用單個傳感器來監(jiān)控測試項目中的壓力并檢測隨時間的任何下降（絕對壓力衰減）。壓力顯著降低表明泄漏，因此失敗。

然而，絕對方法的主要缺點(diǎn)是傳感器必須能夠在初始化階段隨著壓力的增加而監(jiān)測壓力，并且必須足夠靈敏以檢測測試階段壓力的微小變化。測試壓力可能在 8 bar 的范圍內(nèi)，檢測小泄漏需要 0.001 mbar 的靈敏度。不可能找到具有這些特性的傳感器。

絕對壓力衰減法的第二個缺點(diǎn)是絕熱過程的影響。當(dāng)物品被提升到測試壓力時，溫度會升高。隨后的散熱可能會導(dǎo)致測試階段的壓力下降，儀器會錯誤地將其視為泄漏。

微分法

使用差壓測量來檢測測試項目中的壓力衰減是靈敏的泄漏檢測方法之一，也是使用 Furness Controls 系列生產(chǎn)線泄漏測試儀常用的方法。

差分法使用兩個壓力傳感器；第一個是絕對傳感器，其跨度涵蓋大氣壓和所需測試壓力之間的范圍，第二個是高靈敏度差壓傳感器 (DPT)，用于在測試階段檢測泄漏。

這種方法的另一個特點(diǎn)是對試樣旁邊的參考部分或體積進(jìn)行加壓，差壓傳感器用于檢測兩個項目之間壓力的相對變化。由于測量的是密封體積和泄漏部分之間的差異，因此壓力傳感器的測量范圍大大縮小，因此可以具有更高的靈敏度來檢測非常小的泄漏。

這種方法的第二個優(yōu)點(diǎn)是一定程度上抵消了絕熱過程的影響。任何升溫和降溫效應(yīng)在測試和參考中均等發(fā)生，因此不會導(dǎo)致壓力差。

測試的標(biāo)準(zhǔn)階段

標(biāo)準(zhǔn)差壓衰減測試有 3 個主要階段：

1.充滿。填充閥打開，空氣以所需的壓力被引入零件（和參考）。
2.穩(wěn)定。填充閥關(guān)閉，將測試項目和參考體積與壓力源隔離。泄漏量大（嚴(yán)重）的項目在此階段壓力會下降，測試將無法進(jìn)行。此外，在填充階段之后，零件在壓力下的物理變形可能會繼續(xù)，因此確保該過程在測試階段開始之前完成是有益的。
3.測試階段。測試閥關(guān)閉，壓差傳感器監(jiān)測測試項目和參考體積之間的相對壓力。

選擇參考體積

使用我們的一種檢漏儀測試部件時，測試的參考端需要考慮三種可能性：

1.檢漏儀的內(nèi)部容積。對于大多數(shù)部件，關(guān)閉參考端口并針對檢漏儀的內(nèi)部體積進(jìn)行差分泄漏測試就足夠了。
2.外部參考體積。如果差壓傳感器參考側(cè)的體積與測試側(cè)的體積相差不大，則可以獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果，因此對于較大的測試項目，可以安裝外部參考體積。
3.一個已知的好項目。在蠕變和絕熱效應(yīng)需要很長時間才能穩(wěn)定的情況下，可以通過將另一個測試項目連接到參考端口來獲得更快且可能更準(zhǔn)確的結(jié)果。此項目必須通過其他方法驗證為不泄漏。

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